利扬芯片：短报文芯片测试方案研发成功

【利扬芯片：短报文芯片测试方案研发成功】财联社9月5日电，利扬芯片公告，近期已完成全球首颗北斗短报文SoC芯片的测试方案开发并进入量产阶段，公司为该芯片独家提供晶圆级测试服务。